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         X射線熒光測(cè)試儀  |  
         
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             | 型 號(hào):XDLM |  
             | 品 牌:德國(guó)菲希爾Fischer |  
             | 技術(shù)指標(biāo):適用于遠(yuǎn)距離測(cè)量(DCM方法,范圍0-80 mm) |  
            
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          	  宜賓X射線熒光測(cè)試儀-XDLM-德國(guó)菲希爾Fischer
 
 X射線熒光測(cè)試儀,鋼結(jié)構(gòu)涂層測(cè)厚儀,可在微小樣品上,epk涂層測(cè)厚儀,手動(dòng)或全自動(dòng)測(cè)量印刷線路板、電子元件和大規(guī)模生產(chǎn)零部件上的鍍層厚度。包括鎳層測(cè)厚、化鎳厚度等。
 
  
 
 XDLM鍍層厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)
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 通用性極廣,進(jìn)口測(cè)厚儀,因?yàn)榕鋫淞宋⒕劢构堋?個(gè)可切換準(zhǔn)直器和 3 個(gè)基本濾片
 
 
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 適用于微小結(jié)構(gòu),槍式涂層測(cè)厚儀,如接插件或線路板
 
 
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 還適用于遠(yuǎn)距離測(cè)量(DCM方法,涂層測(cè)厚儀智昊,范圍0-80 mm)
 
 
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 底部C型開(kāi)槽的大容量測(cè)量艙
 
 
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 可編程的臺(tái)式設(shè)備,日照涂層測(cè)厚儀應(yīng)用,用于自動(dòng)測(cè)量 
 
 
 
 XDLM鍍層厚度測(cè)量?jī)x典型應(yīng)用領(lǐng)域
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  測(cè)量印刷線路板工業(yè)中,油漆涂層測(cè)厚儀,薄金、鈀和鎳鍍層。鎳層測(cè)厚、化鎳厚度
 
 
 
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 在電子和半導(dǎo)體行業(yè)中測(cè)量功能性鍍層。
 
 
 
  
           
       
       
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