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X 射線熒光測試儀 |
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| 型 號：XDV -μ |
| 品 牌：德國菲希爾Fischer |
| 技術(shù)指標：可以對100μm或更小的結(jié)構(gòu)進行分析 |
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文山X 射線熒光測試儀-XDV -μ-德國菲希爾Fischer
X 射線熒光測試儀，壁厚儀，配有多毛細孔 X 射線光學系統(tǒng)，d4涂層測厚儀，可自動測量和分析微小部件及結(jié)構(gòu)上鍍層厚度和成分。
XDV-u鍍層厚度測量儀特點
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優(yōu)化的微區(qū)分析測試儀器
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根據(jù)X射線光學系統(tǒng)，epk 涂層測厚儀，可以對100 μm或更小的結(jié)構(gòu)進行分析
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極高的能量強度，電鍍層測厚儀，從而實現(xiàn)出色的精度
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即使對于薄鍍層，進口涂層測厚儀，測量的不確定度也有可能做到 < 1 nm
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只適用于平面的或是接近平面的樣品
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底部C型開槽的大容量測量艙
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通過快速、可編程的 XY 工作臺進行自動測量
XDV-u鍍層厚度測量儀典型應(yīng)用領(lǐng)域
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測量印刷線路板、引線框架和芯片上的鍍層系統(tǒng)
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測量細小部件和細電線上的鍍層系統(tǒng)
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分析微小結(jié)構(gòu)和微小部件的材料成分
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